‘材料分析’ カテゴリーのアーカイブ


断面TEM観察 半額キャンペーン実施中!

◇断面TEM観察 半額キャンペーン実施中◇

    期間:2020/4/10~2020/9/30

下記条件により定価の50%割引にて承ります。

【適用条件】
◎試料数:5試料一括でご依頼の場合
◎その他条件:下表のとおり

基 本 仕 様 備   考
試料素材 FIB加工可能な素材(応談) ・加工が難しいソフトマテリアルや低融点素材は不可
・ダイアモンド、SiC等の加工レートが低いものは応談
加工領域 ~幅20μm×高さ15μm ・左を超える場合も別途応談
観察視野数 ~7視野 ・信号はBF-STEM/HAADF/SEの3種
最大倍率 ~500K倍 ・500K倍を超える場合も別途応談可
納 期 応談 ・特急対応も応談

 

・観察は加速電圧200KV(固定)のSTEM装置になります。
・手法はマイクロサンプリング法になります。
・計測サービスは数量により応談とさせて頂きます。
・元素分析は別途となります。

《使用装置》
・FIB加工:FB-2100/FB-2000A(日立ハイテクノロジーズ製)
・STEM観察:HD-2000(日立ハイテクノロジーズ製)

 

株式会社近畿分析センター
滋賀県大津市晴嵐二丁目9番1号
お気軽にご相談ください 077-534-0651
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カテゴリー: 材料分析 | 2020 年 7 月 27 日 月曜日

SEM,TEM観察 リモート立ち会いサービス導入

◆ ご来社頂くことなくインターネット経由で立ち会い解析
  (TEM観察、FE-SEM観察、EDX分析)が可能となりました。

◆ 観察・分析の視野をリアルタイムでご指示、ご確認いただけます。

◆ ご指定時間内、観察視野数に制限なく画像取得可能です。

◆ 同様のシステムによる分析前のweb会議も随時対応します。

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カテゴリー: 材料分析 | 2020 年 7 月 27 日 月曜日

~断面観察のご紹介~

CP、FE-SEM、FIB-TEMによる半導体・電子材料の断面観察(高機能フィルム、ガラス、ナノ粒子・パウダーなど)

イオンミリング(CP)とFE-SEM、FIB-TEMを組合わせた方法により、さまざまな電子材料の詳細断面観察・分析が可能です。

◆ ミリメートル~ナノメートルに対応した試料加工・観察・分析が可能です。

◆ 加工精度向上により、CPによる10μmの微小パターンを狙った断面観察も可能です。

◆ 新型FE-SEM(日立ハイテクノロージーズ製   Regulus8220)では、リターディング機能を用いることにより、試料の極表面観察と超高解像度を実現します。

〔用途〕
◆ 金属間合金層の観察・分析
◆ 研磨による試料作成が困難な亀裂やボイドの評価/観察
◆ 薄膜積層界面の観察/分析
◆ 応力に弱い試料(高機能フィルム等)の断面観察

+ +  

〔主な事例〕

FIB-TEM-EDXの観察分析事例

フィルム試料の断面観察事例

FESEMによる半導体PN極性(ドーパント)可視化事例

➨断面観察の詳細はこちら

 

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カテゴリー: 材料分析 | 2020 年 6 月 19 日 金曜日

TEMで液中ナノ粒子の観察が可能です

液体のままでナノレベルの観察をしてみませんか

TEMを用いた液体中ナノ粒子観察

液体を専用のマイクロチャンバーに導入封止して透過型電子顕微鏡(TEM)で観察できます。
液体サンプルの様々な観察に対応致します。
観察事例

POINT

凝集によりCa粒子のサイズ・分布は不明。

 本技法

POINT

液中での観察により、牛乳中のCa粒子の形状・サイズ・分布を確認できました。
ナノインク、化粧品、薬品等、ナノ材料の液中分散性評価が可能になります。

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カテゴリー: 材料分析 | 2020 年 6 月 1 日 月曜日

半導体の故障解析・構造解析 FESEMによる半導体PN極性(ドーパント)可視化技術のご紹介

FESEMによる半導体PN極性(ドーパント)可視化技術を確立しました!

観察装置:日立ハイテクノロジーズ製Regulus8220

以下に観察事例を掲載します。このように断面作製方法CP/FIB共に様々なデバイスにおいても可視化が可能です。ここにはないデバイスでもお気軽にご相談下さい。
(キャリア濃度により充分なコントラストが得られない可能性はありますので、詳細はお問い合わせ下さい。)

デバイス/断面作製 断 面 観 察 結 果
パワーデバイスの
アクティブ領域
(Si品、プレーナー型)

CP加工

 
メモリ素子(SRAM)
セル領域

FIB加工

 
表面照射型CMOS
イメージセンサー
画素領域

CP加工

 
多結晶Siによる
ツェナーダイオード

FIB加工
 

 

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カテゴリー: 材料分析 | 2020 年 5 月 26 日 火曜日