Si半導体の結晶欠陥評価サービスのご案内(Seccoエッチング、Wrightエッチング)

カテゴリー: 材料分析

クロムを用いたSiエッチングサービスを承ります。
(Seccoエッチング、Wrightエッチング、etc)

(当社の特徴)

■  Wafer、完成品、プロセス工程品のいずれも対応可能です。
                                         (別途前処理が必要な場合もあります)

■  きめ細かいエッチング量制御による欠陥発生深さの検証が可能

■  薬液条件のカスタマイズにも対応します。

■  短納期対応可能(~3営業日対応)

株式会社近畿分析センター
滋賀県大津市晴嵐二丁目9番1号
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カテゴリー: 材料分析 | 2018 年 11 月 29 日 木曜日