Si半導体の結晶欠陥評価サービスのご案内(Seccoエッチング、Wrightエッチング)

カテゴリー: 材料分析

クロムを用いたSiエッチングサービスを承ります。
(Seccoエッチング、Wrightエッチング、etc)

    ◆ 当社の特徴
    ◇
Wafer、完成品、プロセス工程品のいずれも対応可能です。
     (別途前処理が必要な場合もあります)
    ◇ きめ細かいエッチング量制御による欠陥発生深さの検証が可能
    ◇ 薬液条件のカスタマイズにも対応します。
    ◇ 短納期対応可能(~3営業日対応)
株式会社近畿分析センター
滋賀県大津市晴嵐二丁目9番1号
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カテゴリー: 材料分析 | 2019 年 5 月 14 日 火曜日