ICP-MS/MSによる部材中の微量不純物分析・評価

ICP-MS/MSは、従来のICP-MSでは困難であった様々な共存成分由来のスペクトル干渉を回避でき、各種部材中の微量元素分析に適用できます。

《適用事例》
シリコン中チタンの定量分析
リチウムイオン電池の活物質中不純物分析
電池触媒中の微量金属含有量分析 
試薬中の不純物分析         etc.

試料の様々な分解方法に対応します。
乾式分解(乾式灰化)
湿式分解(解放/密閉湿式灰化)
融解法(アルカリ融解)     etc.
※一部分解できない試料もあります。
株式会社近畿分析センター
滋賀県大津市晴嵐二丁目9番1号
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カテゴリー: 材料分析 | 2019 年 6 月 18 日 火曜日

~断面観察のご紹介~

CP、FE-SEM、FIB-TEMによる半導体・電子材料の断面観察(高機能フィルム、ガラス、ナノ粒子・パウダーなど)

イオンミリング(CP)とFE-SEM、FIB-TEMを組合わせた方法により、さまざまな電子材料の詳細断面観察・分析が可能です。

◆ ミリメートル~ナノメートルに対応した試料加工・観察・分析が可能です。

◆ 加工精度向上により、CPによる10μmの微小パターンを狙った断面観察も可能です。

◆ 新型FE-SEM(日立ハイテクノロージーズ製   Regulus8220)では、リターディング機能を用いることにより、試料の極表面観察と超高解像度を実現します。

〔用途〕
◆ 金属間合金層の観察・分析
◆ 研磨による試料作成が困難な亀裂やボイドの評価/観察
◆ 薄膜積層界面の観察/分析
◆ 応力に弱い試料(高機能フィルム等)の断面観察

+ +  

〔主な事例〕

FIB-TEM-EDXの観察分析事例

フィルム試料の断面観察事例

FESEMによる半導体PN極性(ドーパント)可視化事例

 

 

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カテゴリー: 材料分析 | 2019 年 6 月 7 日 金曜日

土壌汚染対策法 改正!お困りではありませんか?土壌汚染調査!!

どんな時に実施するの?

条件にもよりますが、
◇ 増築したい
◇ 土地を売りたい・買いたい
◇ 工場を閉鎖したい
     
といった時です。

専門的な言い方では、
◆ 特定施設を廃止するとき
◆ ある一定面積以上の土地改変を実施するとき

◆ 飲用等に使われている地下水汚染の汚染原因者であった場合  等々

法・条例によりその契機はまちまちです。

弊社では、電子産業界、自動車産業界、精密機器業界、製薬業界、不動産業界、クリーニング業界と幅広い業界での土壌汚染調査の実績があります。

2019年4月土壌汚染対策法が改正されました。今回の改正では、調査契機が増えると予想しています。

どんなサービスがあるの?

法、条例対応の調査・対策支援(実際の汚染対策は、親会社 (株)NECファシリティーズとの連携業務となります)は、もちろんのこと、

なかなか分かりづらい
◆ 行政対応支援(行政報告書作成業務含む)
◆ 土壌汚染対策法に準じた工事を実施するための支援業務 等々

まずはお気軽にご相談ください!
(※詳細は、土壌環境調査をご覧ください。)

 

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カテゴリー: 土壌環境調査 | 2019 年 5 月 22 日 水曜日

~ISO16232/VDA19準拠による自動車部品の清浄度検査のご案内~

検出粒子の定性分析(SEM-EDX,FT-IR)のご相談も承ります。

ハイブリット車やクリーンディーゼルなど、自動車パワートレーンの高性能化・小型化が進む中、故障の原因となる微粒子管理は、流体部品に留まらずリチウムイオンバッテリや電子部品にまでクリーンな部品への要求が高まっています。

弊社では、「自動車部品の清浄度検査」において国際標準となっているISO16232並びにVDA19(ドイツ自動車工業会規格)に準拠した検査技術を確立し、受託分析を行っています。

◇ 標準分析(粒径≧50μm)、拡張分析(粒径≧5μm)
◇ ご報告内容:総粒子数、金属光沢粒子数、繊維状粒子の識別、代表的な粒子の写真
◇ 減衰試験、ブランク試験、英文報告にも対応可能です。
◇ 特急対応のご相談も承ります。
◇ 検出粒子の定性分析(SEM-EDX,FT-IR)のご相談も承ります。

(ご指定の粒子の分析ができない場合もございます)

どうぞお気軽にお問い合わせください。

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カテゴリー: 材料分析 | 2019 年 5 月 22 日 水曜日

ICP-MS/MSによる超高感度分析のご案内

最新のICP-MS/MSを導入して、純水・薬液・ウェーハ表面等の超高感度分析を立ち上げました。
長年半導体工場で培った微量分析技術により、皆様の問題解決に貢献いたします。

◆ 特 長
◇ 金属の感度が従来の10~100倍向上
◇ P,S,Si 等軽元素の測定が可能
◇ ナノ粒子の測定が可能

◆ 測定例
◇ 半導体製造プロセスで用いられる純水や試薬の測定

◇ 高度な電子部品やバッテリ部品の高純度の希土類元素の測定
◇ 硫黄、リンなどのヘテロ元素の測定による未知のタンパク質の定量
◇ 食品サンプルに低濃度で含まれるヒ素やセレンの測定
◇ 環境、食品、および生物系に存在するナノ粒子(NP)の測定

◆ 検出下限

元 素 検出下限(ppt)
現状
(ICP-MS)
新装置
(ICP-MS/MS)
  Li,Cd,Mn 等 0.2 0.02
  Na,K,Ca 等 2 0.1
  P,S,Si 5000 50

※H2O2中の元素を想定。試料や容器、環境により値は変わります。

◆ 装  置

Agilent8900  トリプル四重極  ICP-MS/MS

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カテゴリー: 材料分析 | 2019 年 5 月 15 日 水曜日