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- 材料分析・評価 [製品中有害物質の分析]
2006年7月からEUで実施されている「電気・電子機器に含まれる有害物質の使用制限指令(RoHS)」に関する含有量測定をはじめ、ELV、REACH、JIG24物質など、製品に含まれる有害物質の幅広い分析を手掛けています。
- 製品中のCd、Pb、Hg、Cr6+、PBB、PBDE濃度測定
- 半田中の鉛濃度測定
- 蛍光X線装置(XRF)によるスクリーニング分析
- 製品中のハロゲン・硫黄分析

- ISO 17025 認定書
- ICP-MS/誘導結合プラズマ質量分析装置
- GF-AAS/グラファイトファーネス原子吸光光度計
- ICP-AES/誘導結合プラズマ発光分光分析装置
- XRF/蛍光X線装置

- 自動試料燃料装置

- 誘導結合プラズマ質量分析装置
(ICP-MS)

- グラファイトファーネス原子吸光光度計(GF-AAS)
| 規制対象物質 | 定量下限値 | 分析方法 | |
|---|---|---|---|
| 特定微量金属 | カドミウム (Cd) |
5mg/kg | マイクロウェーブ分解-ICP-MS法
※ISO/IEC17025試験所認定取得 |
| 鉛 (Pb) |
10mg/kg | ||
| 水銀 (Hg) |
5mg/kg | ||
| クロム (Cr) |
10mg/kg | ||
| 六価クロム (Cr6+) |
10mg/kg | 熱水・アルカリ抽出-吸光光度法 | |
| 臭素系難燃剤 | ポリ臭化ビフェニール (PBB) |
5mg/kg | 溶媒抽出-GC-MS法 |
| ポリ臭化ジフェニルエーテル (PBDE) |
5mg/kg | ||
| 項目 | 定量 下限値 (ppm) |
規 格 値(ppm) | 分析方法 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 国際電気 標準会議(IEC) |
米国 電子回路 工業協会(IPC) |
日本 電子回路 工業協会(JPCA) |
電子情報技術 産業協会(JEITA) |
|||
| 塩素 | 50 | 900 | 1000 | 燃焼-IC法 | ||
| 臭素 | 900 | 1000 | ||||
| フッ素 | - | 1000 | ||||
| ヨウ素 | - | 1000 | ||||
| 塩素+臭素 | 1500 | - | ||||
![[製品中有害物質の分析] 安全・安心な製品のために](img/h1_toxic_substance.jpg)






