ICP-MS/MSによる超高感度分析のご案内

カテゴリー: 材料分析

最新のICP-MS/MSを導入して、純水・薬液・ウェーハ表面等の超高感度分析を立ち上げました。
長年半導体工場で培った微量分析技術により、皆様の問題解決に貢献いたします。

◆ 特 長
◇ 金属の感度が従来の10~100倍向上
◇ P,S,Si 等軽元素の測定が可能
◇ ナノ粒子の測定が可能

◆ 測定例
◇ 半導体製造プロセスで用いられる純水や試薬の測定

◇ 高度な電子部品やバッテリ部品の高純度の希土類元素の測定
◇ 硫黄、リンなどのヘテロ元素の測定による未知のタンパク質の定量
◇ 食品サンプルに低濃度で含まれるヒ素やセレンの測定
◇ 環境、食品、および生物系に存在するナノ粒子(NP)の測定

◆ 検出下限

元 素 検出下限(ppt)
現状
(ICP-MS)
新装置
(ICP-MS/MS)
  Li,Cd,Mn 等 0.2 0.02
  Na,K,Ca 等 2 0.1
  P,S,Si 5000 50

※H2O2中の元素を想定。試料や容器、環境により値は変わります。

◆ 装  置

Agilent8900  トリプル四重極  ICP-MS/MS

株式会社近畿分析センター
滋賀県大津市晴嵐二丁目9番1号
お気軽にご相談ください 077-534-0651
ホームページはこちら

お問い合わせは こちら

カテゴリー: 材料分析 | 2019 年 5 月 15 日 水曜日