業務案内-機器・手法から探す - 株式会社近畿分析センター
機器・手法から探す
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TEM、FIB
走査型透過電子顕微鏡(STEM)を用いた観察・分析を実施致します。
FE-SEM
最新のFE-SEMを用いた観察を実施致します。
FT-IR
顕微赤外分光装置(FT-IR)を駆使した分析を実施致します。
X線回折、蛍光X線
X線に関する分析を実施致します。
GC/MS
GC-MSを使用した分析を実施致します。
MS,MS/MS(ICP,LC,GC)
ICP-MS,ICP-MS/MS等を用いた極微量分析を実施致します。
AAS
微量分析ではグラファイトファーネス原子吸光装置を用いてた測定を実施致します。
その他
その他装置についてもお問い合わせください。自社で保有していない装置に関しては、連携先で対応可能です。
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